顕微鏡について
試料の検査
顕微鏡は、微細な特徴を見やすくするために、光学またはデジタル拡大を利用して試料の検査に使用します。 これは、肉眼で試料を検査する肉眼検査とは対照的です。
光学顕微鏡は、最大 1,000 倍の倍率で微細構造検査します。 最大 50 万倍の倍率が可能な電子顕微鏡は、一般的に研究開発所や教育機関、R&Dラボでの不具合分析に使用されます。
顕微鏡は、微細な特徴を見やすくするために、光学またはデジタル拡大を利用して試料の検査に使用します。 これは、肉眼で試料を検査する肉眼検査とは対照的です。
光学顕微鏡は、最大 1,000 倍の倍率で微細構造検査します。 最大 50 万倍の倍率が可能な電子顕微鏡は、一般的に研究開発所や教育機関、R&Dラボでの不具合分析に使用されます。
光学顕微鏡
光学顕微鏡は、材料の特性に基づいて特定の特徴を強調し、コントラストを改善するために異なるフィルタを使用します。フィルタの倍率は一般的に 2.5 倍から 1000 倍の範囲です。材料組織学では通常、照射光学顕微鏡に反射光を使用します。主に鉱物試料の場合は、透過型光学顕微鏡も使用できます。
実体光学顕微鏡
実体顕微鏡は、低い倍率で試料を観察するために設計された光学顕微鏡で、試料面から反射した光を使用します。
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡 (SEM) は、電子顕微鏡の一種で、試料面を電子の集束ビームでスキャンして試料の画像を生成します。電子が試料の原子に相互作用して、表面トポグラフィーおよび試料組成の情報として変換される様々な信号を生成します。
透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡 (TEM) は、超薄型試料に透過する 電子 ビームを使用し、試料を通過させて相互作用します 。生成された信号は、個々の結晶の種類や向きなど、様々な情報に変換されます。